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物質からの回折と結像―透過電子顕微鏡法の基礎
作家 | |
記事番号 | 7414366511 |
JA - US | |
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MST|STEM(走査)透過電子顕微鏡法 ~ 原理 電子が薄片試料を透過する際、そのまま直進して試料を透過する電子と、原子の種類や結晶性により散乱を起こす電子があります。散乱した電子は、弾性散乱電子と非弾性散乱電子に大別され、それらの電子を目的に応じて選択して結像することで試料内部の形態・結晶構造・組成・電子
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MST|電子顕微鏡観察・分析 ~ TEMの電子回折を利用して、結晶性試料の方位分布解析を行う手法です。 詳細はこちら SIM走査イオン顕微鏡法 固体試料にイオンビームを照射すると二次電子が発生します。二次電子は各結晶粒の結晶方位に応じたコントラストを生じ
目次検索結果 透過電子顕微鏡 基本用語集 JEOL 日本電子 ~ 日本電子(JEOL)のオフィシャルサイト。電子顕微鏡のトップメーカー。分析機器・医用機器・半導体関連機器・産業機器の製造・販売・開発・研究も手がける。YOKOGUSHI戦略をGLOBALに展開中。
超高分解能電子顕微鏡法の基礎 国立研究開発法人物質・材料 ~ (3) TEM観察の基本原理 31 電子と物質の相互作用 薄膜試料に電子ビームを照射した際に、引き起こされる相互作用を図2に示します。試料が非常に薄い場合、入射電子の大半は相互作用することなく直進します(透過電子)。